加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验Hast试验箱是在非饱和湿度(65%~100%RH可调)、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。一般用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等，若待测品是半导体，则用来测试半导体封装之抗...

液槽冷热冲击试验箱用来测试复合材料及材料结构，在瞬间下经及高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度。是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业(航空、汽车、家电、科研等域)的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑胶、化工业、食品业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁工业及相关产品等设...

Phase12热阻测试仪主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET,IGBT，IC等分立功率器件的热阻测试及分析。PHASE12可以测试Rja，Rjc，RjbRjl的热阻(测试原理符合JEDEC51-1定义的动态及静态测试方法)图一Phascl2测试来的数据，将产生上图。左上角的数字说明这个器件有四个层次(为了可以清楚的了解不同层次，可以将这个图转换成图三)。其中第一个是芯片下的粘接层的阻抗值，后面Tau是完成的测试时间，四个层次的阻抗...

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIASVOLTAGE),经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(IONMIGRATION),并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。(IONMIGRATIONTESTING)在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。通过最大300...

冷热冲击试验是测试金属、塑料、橡胶、电子等材料对*温或极低温的抵抗力的一种试验技术。这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形,它能使各种物品在最短的时间内完成测试。冷热冲击试验中产生的化学变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其它物理性值的改变而引起的。冷热冲击试验的效果包括成品裂开或破层及位移等所引起的电化学变化。例如,有一些金属材料如体心立方晶格的中低强度钢,当其服役温度降低时,起塑性、韧性便急剧降低,使材料脆化。冷热冲击试验在工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；在产...

高加速寿命试验箱是一种发现设计缺陷的工序，它通过设置逐级递增的加速环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的，大的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而从暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。那么在使用高加速寿命试验箱时对样品的要求有哪些呢?下面让我们一起来了解一下吧。1.试验样品应该用序列号或其它标识区分。2.试验中要确认有一个热电偶粘贴在样品上，作为试验中温度校...

Hast试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板、多层线路板、IC、LCD、磁铁等产品之密封性能的检测，测试其制品的耐压性，气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。该设备作为检测设备，怎样保证试验箱...

撕裂试验是电子试验机的几大试验之一，常用于橡胶、塑料行业当中。电子拉力试验机的撕裂试验是为了求出撕裂强度值，使用电子拉力机对有割口或无割口的橡胶制品在规定的速度下进行连续拉伸，直到橡胶式样被撕断为止，这样即可得到撕裂强度值。撕裂强度值具体与什么有关系呢?其实是一般与试样形状、拉伸速度、试验温度有关。下面和大家简单分享电子试验机对各种形状的试样撕裂试验小知识。1、撕裂试验试样一裤形试样：使用裤形试样对切口长度不敏感，而另外两种试样的割口要求严格控制。另外，获得的结果更有可能与材...