HAST高加速寿命试验箱-CAF测试系统-日立快速温变箱-深圳市世纪天源仪器有限公司

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日本hitachi(cosmopia)快速温变试验箱

日本hitachi(cosmopia)快速温变试验箱日立环境试验设备的核心部分，采用涡旋式压缩机，使其在低温领域也能实现高效和稳定的运行。不论是在提高各类产品的可靠性方面还是在食品、化学、医药领域的...

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J-RAS中国总代高压离子迁移ECMr500系列

J-RAS中国总代高压离子迁移ECMr系列ECMr-500（2026年发布）集成两大经典机型优势，支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式，实现高效样品连接。提供40/100通道机...

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德国布鲁克BRUKER摩擦磨损与机械性能测试仪

德国布鲁克BRUKER摩擦磨损与机械性能测试仪采用模块化设计，可模拟旋转/往复运动、润滑、温湿度及电化学腐蚀等复杂工况。系统集成全系列力传感器与环境控制模块，支持摩擦系数（低至10⁻³级）、...

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ANATECH热阻测试仪中国代理商

ANATECH热阻测试仪中国代理商Phase12主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的热阻测试及分析。

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日本J-RAS离子迁移试验装置（CAF）

日本J-RAS离子迁移试验装置（CAF） CAF试验/CAF测试是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ），经过长时间的测试（1 ～1000 小时）...

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平山HIRAYAMA高加速寿命试验箱PC-242HSR2

深圳市世纪天源仪器有限公司是平山HIRAYAMA代理，HIRAYAMA公司生产的HAST/PCT设备种类齐全，性能稳定，已经广泛应用于电子零件制造商或与半导体光伏、电路板等。

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布鲁克中国代理白光干涉仪/三维光学轮廓仪

德国BRUKER中国代理白光干涉，专为高效获取高精度三维表面纹理与粗糙度测量而设计。该系统融合了布鲁克三十余年的技术创新与全新专有软件，在保持优异测量效率和高重复性的同时，进一步简化操作流程。其凭借出...

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关于我们

　　世纪天源(香港)有限公司，英文(简称SKYAN)。是一家立足于研发测试领域，集仪器销售、租赁、技术咨询、维修服务于一体的高新技术型企业。是中国印制电路行业协会(CPCA)会员企业。　　公司位于香港，营运中心设在深圳，在日本东京拥有子公司，在新加披、越南、泰国英国设有商务和销售据点，在中国上海、苏州、青岛、武汉、成都、厦门等设有营业网点，全国设有多家授权分销商。　　SKYAN公司是日本HIRAYAMA株式会社工业设备的海外销售中心--成立于1990年新加坡HMCSALES&SERVICEPTELTD(HIRAYAMAFACTORYSUPPORTCENTRE)在中国的关联企业;是COSMOPIA(原HITACHI)的中国代理商;是日本J-RAS株式会社的中国大陆总代理商;同时，还是日本东扬精测的战略合作伙伴。　　公司奉行“引入先进，成就品质，创造价值，诚信服务”的经营理念，以客户的需求为出发点，凭借高精密的设备和专业的团队，致力于为客户提供进口的高性能、高精度、高专业性等更高可靠度的优质产品及更优质的客户服务，协助客户实现其价值的优化。　　公司每年举办多次的行业技术研讨会，邀请多家著名企事业单位(如:中科院、HUAWEI、ZTE等)进行技术交流，致力于为客户提供更前沿的技术服务，不断的开拓发展不同类别、不同领域的仪器及系统，为每一个客户量身订制最合透的解决方案。SKYAN秉承着企业理念:专业、优质、双赢;敢想就敢有!

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新闻中心技术文章

2026-821
半导体行业新标配：高加速寿命试验箱的应用场景全梳理

在半导体行业，产品从晶圆封装到终端应用，每一个环节的可靠性都直接决定下游整机的长期稳定性。随着芯片制程不断缩小、封装密度持续提升，传统常规环境试验已经难以覆盖复杂工况下的潜在失效风险，高加速寿命试验箱正逐步成为行业通用的标配验证设备。芯片封装环节是高加速寿命试验箱最核心的应用场景之一。通过营造高温高湿的复合应力环境，设备可以快速验证塑封材料的抗湿气渗透能力，提前发现封装分层、引脚腐蚀、键合点脱落这类常规测试中需要上千小时才能显现的隐患。很多晶圆级封装、系统级封装的新品，都会在...
2026-818
工厂质检升级的心脏：一台恒温恒湿试验箱搞定高低温湿热全测试

在制造业质检环节升级的过程中，不少工厂过去分散配置多台单一功能测试设备的模式，逐渐显现出流程繁琐、数据难以统一的问题。一台合格的工业级恒温恒湿试验箱，就可以覆盖常规的高温、低温、恒定湿热、温湿度交变等绝大多数环境可靠性测试项目，帮助工厂简化质检流程，提升验证效率。过去很多中小工厂的质检部门，往往单独采购高温箱、低温箱、恒定湿热箱三类设备，不仅占用了大量实验室空间，测试不同项目时还需要人工转移试样，既耗费人力，也容易在试样转移过程中引入环境变量，导致测试数据出现偏差。而一台参数...
2026-728
邀请函|世纪天源与您相约2026泰国电子电路亚洲展览会（THECA）

2026年8月26日-8月28日期待与您相遇
2026-727
原子力显微镜：解锁微观世界的“纳米级眼睛”

原子力显微镜（AFM）是扫描探针显微镜家族中的重要成员，自1986年问世以来，它逐步成为材料、生物、半导体等领域表征微观尺度信息的常规工具。和传统光学显微镜、电子显微镜不同，它无需依赖光束或电子束成像，而是通过感知探针与样品表面原子间的微弱相互作用力，获取纳米甚至亚纳米级别的表面信息，这也是它被称为“纳米级眼睛”的核心原因。它的核心结构并不复杂：一端固定的微悬臂搭载着曲率半径仅几纳米的尖锐探针，当探针逐渐靠近样品表面时，针尖原子与样品原子间会产生范德华力、静电力等微弱相互作用...

2026-822
芯片老化不再等上千小时！HAST试验箱如何用加速应力重新定义可靠性验证

在半导体行业的可靠性验证流程中，传统双85湿热试验往往需要连续运行上千小时，才能充分暴露芯片封装、引脚互联等部位的湿气相关失效。HIRAYAMAHAST试验箱通过对温度、湿度、压力三重应力的精准协同调控，将等效验证周期压缩至数十小时，大幅适配了芯片迭代速度不断加快的行业需求。这款设备采用双箱体独立控制结构，测试腔体与蒸汽发生器分离运行，避免了单箱体结构中蒸汽生成过程对腔内温场的干扰。测试腔体由SUS316L不锈钢电解抛光制成，温度控制精度可达±0.5℃，分布精度...
2026-822
非接触式纳米测量：布鲁克白光干涉仪解锁表面微观世界

在精密制造与材料科研领域，大量样品的表面微观特征直接决定其核心性能，传统接触式测量手段容易对软质薄膜、微纳结构造成不可逆损伤，布鲁克白光干涉仪依托成熟的非接触式白光干涉技术，为这类场景提供了稳定的纳米级测量方案。设备的核心测量逻辑基于宽光谱白光的短相干特性：光源发出的白光经分光系统分为两路，分别投射到高精度参考镜面与被测样品表面，两束反射光汇合后仅在光程差接近零点的位置产生清晰干涉条纹。通过高精度闭环Z轴扫描模块带动光路移动，逐像素采集干涉信号的强度变化曲线，结合配套算法定位...
2026-821
CAF离子迁移测试与电化学迁移测试的区别与联系

CAF离子迁移测试与电化学迁移测试，同属于PCB可靠性验证领域的电化学失效类测试，二者的核心底层机理高度同源，但在测试对象、发生场景和判定逻辑上存在明确区分，不能直接等同。从联系层面看，两类测试的底层驱动条件一致，都需要同时满足三个核心要素：存在稳定的直流电场作为离子迁移的驱动力、有足够的水汽形成连续的离子导通通道、体系内存在可电离的金属离子作为迁移物质。二者的失效本质都是金属在阳极失去电子生成金属离子，在电场作用下向阴极定向移动并逐步沉积，最终导致绝缘性能下降甚至短路，测试...
2026-820
离子迁移试验装置在pcb板块的重要性有哪些

离子迁移试验装置是PCB板块可靠性管控的核心设备，对行业全流程质量提升有不可替代的作用，其重要性主要体现在以下几个方面：一、提前识别隐蔽失效风险‌核心作用‌：可在高温高湿带电的加速工况下，连续监测PCB绝缘电阻的动态变化，精准捕捉常规离线测试无法发现的离子迁移早期劣化信号，避免产品交付后出现间歇性短路、突发失效等问题。‌实际价值‌：能有效规避PCB因离子迁移引发的漏电、起火等安全隐患，大幅降低终端产品的售后维护成本。二、支撑材料与工艺优化‌核心作用‌：为PCB基材、阻焊油墨、...