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日本hitachi(cosmopia)快速温变试验箱 日立环境试验设备的核心部分,采用涡旋式压缩机,使其在低温领域也能实现高效和稳定的运行。不论是在提高各类产品的可靠性方面还是在食品、化学、医药领域的...

J-RAS中国总代高压离子迁移ECMr500系列

J-RAS中国总代高压离子迁移ECMr系列ECMr-500(2026年发布)集成两大经典机型优势,支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式,实现高效样品连接。提供40/100通道机...

ANATECH热阻测试仪中国代理商

Analysis TechInc.成立于1983年,坐落于波士顿北部,是电子封装器件可靠性测试的国际设计,制造公司。创始人JohnW.Sofia是美国麻省理工的博士,并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热...

日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)

日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF) CAF试验/CAF测试是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)...

平山HIRAYAMA高加速寿命试验箱PC-242HSR2

深圳市世纪天源仪器有限公司是平山HIRAYAMA代理,HIRAYAMA公司生产的HAST/PCT设备种类齐全,性能稳定,已经广泛应用于电子零件制造商或与半导体光伏、电路板等。

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关于我们
  世纪天源(香港)有限公司,英文(简称SKYAN)。是一家立足于研发测试领域,集仪器销售、租赁、技术咨询、维修服务于一体的高新技术型企业。是中国印制电路行业协会(CPCA)会员企业。  公司位于香港,营运中心设在深圳,在日本东京拥有子公司,在新加披、越南、泰国英国设有商务和销售据点,在中国上海、苏州、青岛、武汉、成都、厦门等设有营业网点,全国设有多家授权分销商。  SKYAN公司是日本HIRAYAMA株式会社工业设备的海外销售中心--成立于1990年新加坡HMCSALES&SERVICEPTELTD(HIRAYAMAFACTORYSUPPORTCENTRE)在中国的关联企业;是COSMOPIA(原HITACHI)的中国代理商;是日本J-RAS株式会社的中国大陆总代理商;同时,还是日本东扬精测的战略合作伙伴。  公司奉行“引入先进,成就品质,创造价值,诚信服务”的经营理念,以客户的需求为出发点,凭借高精密的设备和专业的团队,致力于为客户提供进口的高性能、高精度、高专业性等更高可靠度的优质产品及更优质的客户服务,协助客户实现其价值的优化。  公司每年举办多次的行业技术研讨会,邀请多家著名企事业单位(如:中科院、HUAWEI、ZTE等)进行技术交流,致力于为客户提供更前沿的技术服务,不断的开拓发展不同类别、不同领域的仪器及系统,为每一个客户量身订制最合透的解决方案。SKYAN秉承着企业理念:专业、优质、双赢;敢想就敢有!
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  • 在精密制造与材料检测场景中,大量样品对接触式测量的损伤风险十分敏感,软质光学薄膜、脆弱MEMS微结构、抛光后的超光滑表面,都难以承受探针划过带来的细微划痕。白光干涉仪依托非接触式光学测量原理,无需触碰样品即可完成全视场三维形貌采集,成为这类场景下适用性很强的检测方案。它的成像逻辑基于宽光谱白光的短相干特性:设备发出的白光经分光系统分为两路,分别投射到参考镜与被测样品表面,两束反射光汇合后仅在光程差接近零点的位置生成清晰干涉条纹。通过高精度闭环Z轴扫描模块以均匀步长移动光路,面...

  • 传统单通道离子迁移试验装置单次仅能完成一组样品的测试,在PCB可靠性验证、多组分气体筛查等需要批量长时间测试的场景中,测试效率较低,难以同时满足多个试样的并行监测需求。多通道离子迁移试验装置的研制,正是为了在保证基本测试精度的前提下,提升单位时间内的样品测试数量,适配工业场景下的批量验证需求。本次研制的多通道装置,采用共用核心信号采集单元的模块化设计方案,整体结构由独立测试腔组、分时选通气路、共用漂移管与信号处理模块四部分组成。每个独立测试腔可单独放置PCB试样或气体采样池,...

  • 近年来,东南亚加速承接全球电子制造产能转移,PCB工厂扩产、先进封装产线落地、汽车电子需求爆发,带动了对可靠性检测设备的强劲需求。而THECA作为东盟地区、专业性的电子电路行业展会,于2026年8月26-28日盛大启幕,链接了中国检测设备厂商与东南亚市场的核心桥梁。THECA泰国电子电路亚洲展览会01精心打磨:布展现场的细节攻坚开展前的布展日,是跨国参展最考验执行力的环节。长途运输后的设备校验、异国展馆的水电适配、展位功能与视觉的平衡,每一个细节都影响着最终的呈现效果。世纪天...

  • 在汽车零部件的全生命周期验证体系中,耐候性能是直接影响车辆长期使用稳定性的核心指标,高压蒸煮试验箱作为其中的常规测试设备,在模拟高温高湿复合环境、提前暴露材料潜在缺陷的环节,发挥着关键支撑作用。汽车行驶过程中,零部件会长期处于复杂的自然环境中,南方梅雨区域的持续高湿、夏季暴晒后的密闭高温、沿海地区的盐雾与水汽叠加,都可能加速材料的老化失效。高压蒸煮试验箱通过营造高于常压的饱和蒸汽环境,让水汽更易渗透进材料的细微缝隙中,在短时间内复现零部件在数年实际使用中可能遭遇的受潮老化过程...

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  • CAF离子迁移测试是电子产品可靠性评估体系中的关键环节,它聚焦PCB基材内部的导电阳极丝失效风险,通过模拟严苛的温湿度与电场耦合环境,提前暴露常规功能测试无法发现的长期隐蔽失效隐患,为不同领域电子产品的长期稳定运行提供验证支撑。在消费电子领域,该测试主要用于高密度细间距PCB的可靠性验证。当前消费类主板的相邻过孔间距普遍缩小至0.2mm以内,常规电气测试仅能验证出厂时的通断状态,无法预判长期在高湿环境下使用时,铜离子沿玻纤-树脂界面迁移引发的隐性短路风险。通过CAF离子迁移测...

  • 在电子制造、汽车零部件与半导体行业的可靠性验证中,很多产品的失效并非在常规工况下立刻显现,而是在长期复杂应力的累积作用下逐步爆发。这类潜藏在设计、工艺、材料层面的隐性缺陷,往往要等到产品交付用户使用数月甚至数年后才会暴露,此时再进行整改,成本和影响范围都会大幅提升。高加速寿命试验箱通过精准模拟极限应力,把这些潜在缺陷提前带到研发人员面前。高加速寿命试验箱的核心,不是无限制地提升环境参数,而是基于产品的实际使用场景,精准匹配对应的极限应力组合。它可以将快速温变、随机振动、湿度耦...

  • 在电子元器件、汽车零部件的可靠性测试环节,传统温变设备往往要在升温、降温、温场稳定三个环节耗费大量等待时间,单轮高低温循环动辄数小时,整批次测试排期经常被拉长,不少实验室都面临测试产能跟不上研发和量产节奏的问题。这款快速温变箱能把常规测试周期缩短60%,核心不是靠脱离标准的提速,而是通过全流程的细节优化,砍掉不必要的等待耗时。首先是温变过程的效率优化。它采用加热功率动态匹配+大冷量冗余设计,在5℃/min至15℃/min的常规线性温变速率区间内,不会出现传统设备“前期快、后期...

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