J-RAS中国总代CAF离子迁移测试装置ECMr-500（2026年发布）集成两大经典机型优势，支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式，实现高效样品连接。提供40/100通道机箱，电阻测量范围2kΩ～10TΩ，电压设定分辨率0.1V，电流测量最*达p*级精度。适用于高可靠性离子迁移分析。

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