德国BRUKER中国代理探针式轮廓仪集五十五年技术积淀，是薄膜厚度、应力、表面粗糙度与形貌测量的金标准。DektakPro以卓*易用性提供亚纳米级高精度数据，满足科研与工业通用需求；DektakXTL专为大尺寸晶圆和面板设计，集成防震与自动化系统，适应严苛生产环境。广泛应用于半导体制程监控、微电子器件验证及光电器件开发，为高*制造提供可靠、可重复的表面表征解决方案。

德国BRUKER纳米红外光谱与成像系统 原子力显微镜（AFM）的纳米红外光谱（AFM-IR）是一种将AFM的高空间分辨率与红外光谱的化学分析能力相结合的新技术。该技术通过使用原子力显微镜的针尖来局部检测样品因红外辐射的局部吸收而产生的热膨胀信号，突破了传统红外显微光谱由于光衍射而引起的空间分辨率限制，可实现优于10nm空间分辨，单分子层灵敏度的纳米红外光谱和红外成像。