更新时间:2026-08-14
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在精密制造向微纳尺度不断延伸的当下,零件表面的纳米级形貌特征直接决定产品的性能与寿命,白光干涉仪作为非接触式三维测量设备,正成为生产全流程中必须的精度保障工具。
传统接触式轮廓仪在测量超精密表面时,容易划伤软质镀层,且针尖曲率半径会限制横向分辨率,难以捕捉微纳级细节。白光干涉仪依托宽光谱干涉原理,无需触碰样品即可获取全视场的三维高度数据,垂直方向稳定实现亚纳米级分辨率,横向分辨率可适配不同倍率物镜的测量需求,适配精密制造对无损伤、高精度检测的核心要求。
在半导体制造环节,晶圆的全局平整度、刻蚀沟槽的深度均匀性、光刻胶的涂覆厚度偏差,都需要纳米级精度的测量来把控。白光干涉仪可快速完成整片晶圆的多点形貌扫描,及时反馈工艺波动,避免因局部高度偏差导致的芯片良率损失。在光学元件加工场景中,非球面透镜、衍射光学元件的面形误差直接影响成像效果,白光干涉仪能精准测量面形的纳米级起伏,为抛光工艺的迭代提供量化数据支撑。
在高精装备零部件领域,航空发动机的叶片热障涂层、精密轴承的摩擦表面、MEMS传感器的微结构,其表面粗糙度和轮廓精度直接影响服役性能。白光干涉仪可在生产线上完成快速抽检,无需复杂的样品预处理,大幅提升了精密制造的质控效率。
作为成熟的光学计量工具,白光干涉仪打通了精密制造从研发打样到批量生产的精度闭环,为各类高精制造场景提供稳定的纳米级数据支撑,是精密制造体系中关键的精度保障环节。
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