离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ ION MIGRATION TESTING ）
在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
适用规格 ： JPCA- - ET01- - 2001
产品优势
简单/便利
△采用高端驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。
△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。
△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。
△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。
高性能&高机能
△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。
→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。
△一台电脑最大可以增设400通道。
△每个通道可以设定不同的电压。
可靠性更高&操作更简洁
△具有自身诊断机能，把异常计测防范于未然。
△配有CF卡，以防设备故障数据丢失。
△每个单元独立，其中一个单元损坏，可以单独拆卸维修，而不影响其他通道使用。
△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。
用途
△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。
△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置，可以在多领域利用。
实例
△测试难度大的高阻值也能除去干扰，清晰得进行测试。
△16msec的高速抽样处理，不会漏掉任何一个数据。
△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。
产品关键词：离子迁移测试、CAF测试、绝缘电阻值检测、离子迁移检测设备、CAF设备、CAF试验、CAF测试方法、Conductive Anode Filaments
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